G09000 - SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様 Revision:SEMI G90-0811 - Superseded 本文書は2000年10月にフォーマットエラーのため編集上の修正が行なわれ，図5が変更となる。

本文書は2000年10月にフォーマットエラーのため編集上の修正が行なわれ，図5が変更となる。

MEMS components

SEMI T7 — Specification for Back Surface Marking of Double-Side Polished Wafers With a Two-Dimensional Matrix Code Symbol

This Test Method is limited to specimens with optical surfaces that are flat or that are spherical with a radius of curvature greater than 10 m

注意：本安全基準中以「註」為標題的段落並非正式內容，不得以此修改或取代正式的安全基準。

G09000 - SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様 Revision:SEMI G90-0811 - Superseded 本文書は2000年10月にフォーマットエラーのため編集上の修正が行なわれ，図5が変更となる。global Assembly & Packaging Committee201171global Audits and Reviews Subcommittee20118www. semiviews. org www. semi. org20118 300mm Referenced SEMI Standards SEMI G59 Test Method for Measurement of Ionic Contamination on Leadframe Interleafing and the Contamination Transferred from the Interleafing to the Leadframes